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高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及實(shí)驗(yàn)原理

 更新時(shí)間:2023-05-12 點(diǎn)擊量:928

      高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn):

      gb/t2423.22環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)n:溫度變化

      gjb150.5設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法_溫度沖擊試驗(yàn)

      gjb360.7電子及電氣元件試驗(yàn)方法溫度沖擊試驗(yàn)

      gjb367.2通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法

      高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)項(xiàng)目:

      溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變、快速溫變、溫度沖擊、冷熱沖擊、溫度梯度、分級(jí)溫度等名稱(chēng)。且不同體系的標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)用的試驗(yàn)方法是不同的,如何區(qū)分這些試驗(yàn)項(xiàng)目,如何選擇試驗(yàn)項(xiàng)目,這需要對(duì)各類(lèi)型試驗(yàn)的來(lái)源以及其區(qū)別進(jìn)行分析。

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      1.低溫試驗(yàn)

      低溫測(cè)試:本試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

      低溫測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn):gb/t 2423.1,iec 60068-2-1,eia 364, mil-std-810f等。

      2.高溫試驗(yàn)

      高溫測(cè)試:為了考察高溫負(fù)載對(duì)試樣的影響,確定試樣在高溫負(fù)載條件下工作的適應(yīng)性。該實(shí)驗(yàn)一般用到 高溫試驗(yàn)箱。

      高溫測(cè)試原理:在高溫直流負(fù)載條件下,被試樣品會(huì)受到高溫應(yīng)力和電應(yīng)力的雙向作用,其電性能和內(nèi)部結(jié)構(gòu) 都會(huì)有一定程度的變化。試驗(yàn)后對(duì)被試樣品的電性參數(shù)及外觀進(jìn)行檢查,就能判斷被試樣品抵 抗高溫和電流負(fù)載的能力。