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芯片PCT老化試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述:芯片PCT老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐厭性,氣密性。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-05-07
  • 訪  問(wèn)  量:832
詳情介紹

  芯片PCT老化試驗(yàn)箱材質(zhì):

  1.試驗(yàn)箱尺寸:PCT-45(∮400mmxL600mm)圓型試驗(yàn)箱

  2.全機(jī)外尺寸:900x700x1600mm(W*D*H)立式

  3.內(nèi)桶材質(zhì):不銹鋼板材質(zhì)(SUS#3163mm)

  4.外桶材質(zhì):不銹鋼板材質(zhì)或選噴塑

  5.保溫材質(zhì):巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫

  6.蒸汽發(fā)室加熱管:鈦管加熱,不生銹。

  芯片PCT老化試驗(yàn)箱控制系統(tǒng):

  1.采用臺(tái)制臺(tái)達(dá)彩色觸控式PLC控制濕度和蒸汽溫度(采用PT-100白金感溫體).

  2.采用指針顯示壓力表.

  3.微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度和蒸汽濕度.

  4.手動(dòng)入水閥(自動(dòng)補(bǔ)水功能,可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn)).

  PCT老化試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

  1.GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)室技術(shù)條件;

  2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn);

  3.MIL-STD810D方法502.2;

  4.GJB150.9-8溫濕試驗(yàn);

  5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗(yàn);

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