hast老化試驗(yàn)箱國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品詳情

　　用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類(lèi)型：即PCT和USPCT(HAST)現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。

　　hast老化試驗(yàn)箱國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)參數(shù)：OK-HAST-30、OK-HAST-40、OK-HAST-50、OK-HAST-60

　　規(guī)格內(nèi):ф30x45、ф45x50、ф55x60、ф65x70

　　溫度范圍:+100℃～132℃

　　濕度范圍:可調(diào)75-100%RH飽和蒸氣固定

　　壓力范圍:環(huán)境大氣壓+0.5—2kg/cm2

　　hast老化試驗(yàn)箱性能：操作環(huán)境需在室溫30℃以下且通風(fēng)良好之條件下進(jìn)行.

　　1.溫度范圍:110℃/132℃.(飽和蒸氣溫度).

　　2.濕度范圍:100%RH.(飽和蒸氣濕度).

　　3.壓力范圍:0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制點(diǎn)壓力(壓力容量3.5Kg/cm2).

　　4.時(shí)間范圍:0~999小時(shí)可調(diào).

　　5.溫度分布:(+/-)2.0℃.

　　6.升溫時(shí)間:RT~132℃約35分鐘內(nèi).(控制點(diǎn)溫度)

　　7.加壓時(shí)間:0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2約40分鐘內(nèi)(控制點(diǎn)壓力)。

　　hast老化箱國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)控制系統(tǒng)：

　　1.微電腦飽和蒸氣溫度+時(shí)間+壓力顯示獨(dú)立控制器.

　　2.本系統(tǒng)符合高壓加速老化之可靠度試驗(yàn)規(guī)格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…

　　3.控制對(duì)象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度.

　　4.控制方式:微電腦PID控制.

　　5.控制精度:(+/-)0.5℃.

　　6.解析精度:0.1℃.

　　循環(huán)方式：飽和水蒸氣自然對(duì)流循環(huán)方式.

　　溫度感應(yīng)器：(RTD)PT-100Ω(鉑金電阻).

　　加溫電熱器：絕緣耐壓型溫度電熱器.